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八戸高専の試験・研究設備を知りたい
| 機 器 名 称 |
メーカー名・規格 |
担当者 |
| 微小部Ｘ線分析装置 |
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赤垣 友治 |
| 走査型電子顕微鏡 |
日立製作所 Ｓ－３０００Ｎ |
赤垣 友治 |
| Ｘ線分析装置 |
堀場製作所 ＥＭＡＸ－７０００typeＸ |
赤垣 友治 |
| イオンスパッタ |
日立製作所 Ｅ－１０３０ |
赤垣 友治 |
| スパッタリング装置 ［バッチ式］ |
日本真空 ＳＨ－３５０Ｌ－Ｔ０６ |
中村 嘉孝 |
| ＳＰＤ薄膜形成装置 |
メイク YK-Ⅱ |
中村 嘉孝 |
| フーリエ変換赤外分光システム |
日本電子 ＪＩＲ－６０００ |
大久保 恵 |
| 自記分散分析システム |
日本分光 Ｌ－７２０Ｗ型 |
大久保 恵 |
| 走査電子顕微鏡 |
日本電子 ＪＳＭ－５３００ |
千葉 憲一 |
| 超伝導核磁気共鳴装置 |
日本電子 ＪＮＭ－ＬＡ４００ |
野沢 正行 |
| 熱分析装置（ＤＴＡ，ＴＧ，ＤＳＣ） |
真空理工 ＴＧＤ－９０００ |
山岸 俊秀 |
| Ｘ線回折装置 |
リガク ＲＡＤ－ⅡＣ |
山岸 俊秀 |
| 蛍光Ｘ線分析装置 |
リガク ３０３０型 |
千葉 憲一 |
| ＩＣＰ発光分光分析装置 |
セイコーインスツルメンツ(株)製
Vista Pro ST アキシャル仕様 |
中村 重人 |
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